SRM 2000 高分辨率X射線衍射用校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)品（美國(guó)NIST）

產(chǎn)品貨號(hào)：SRM 2000

英文名稱：Calibration Standard for High-Resolution X-Ray Diffraction

中文名稱：高分辨率X射線衍射用校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)品

規(guī)格：1 block

危險(xiǎn)等級(jí)：非危險(xiǎn)品

產(chǎn)品用途：

該標(biāo)準(zhǔn)參考材料 （SRM） 為高分辨率 X 射線衍射 （HRXRD） 社區(qū)提供了國(guó)際單位制 （SI） [1] 可追溯的 Si （220） 透射 d 間距、表面到晶體平面晶圓誤切和表面到硅 （004） 布拉格角反射對(duì)于我們的參考波長(zhǎng)。 SRM 2000 的一個(gè)單元由 25 mm × 25 mm × 0.725 mm 雙拋光 （100） 導(dǎo)向的單晶硅樣品組成，標(biāo)稱值為 50 nm Si0.85Ge0.15 外延層和 25 nm Si 帽。 這些認(rèn)證值可用于校準(zhǔn) HRXRD 儀器。

儲(chǔ)存及操作說(shuō)明：

外延層可能受損或晶片機(jī)械應(yīng)變;因此，應(yīng)避免接觸 SRM 的前表面。 要去除表面污染，請(qǐng)使用過(guò)濾后的氮?dú)狻?/p>

峰分布：測(cè)得的衍射峰明顯不對(duì)稱。 支持性測(cè)量表明，這種不對(duì)稱可能不完quan是由于儀器效應(yīng)，而部分是由于 SRM 2000 原料的特性。 因此，使用分離 Pearson VII 曲線來(lái)擬合和估計(jì)峰位置，并推薦用于確定校準(zhǔn)峰位置。 由于不對(duì)稱性對(duì)輪廓位置確定的影響不同，使用另一個(gè)輪廓函數(shù)可能會(huì)導(dǎo)致系統(tǒng)偏差。

有效期：SRM 2000 的認(rèn)證在指ding的不確定性范圍內(nèi)無(wú)限期有效，前提是 SRM 按照本證書中給出的說(shuō)明進(jìn)行處理和儲(chǔ)存（參見“處理、儲(chǔ)存和使用說(shuō)明"）。 因此，不需要定期重新校準(zhǔn)或重新認(rèn)證此 SRM。 如果 SRM 損壞、污染或以其他方式修改，則認(rèn)證將失效。

本公司保證全程采用美國(guó)NIST要求的運(yùn)輸條件進(jìn)行產(chǎn)品運(yùn)輸。

更多關(guān)于SRM 2000 高分辨率X射線衍射用校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)品（美國(guó)NIST）  的信息，可聯(lián)系我司獲取，我司所供美國(guó)NIST標(biāo)準(zhǔn)品均原廠訂貨，貨期短，質(zhì)量保證，售后完善。